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Sensofar
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Sensofar S mart II，系統重量輕，體積小，掃描頭寬度僅有90 mm，是緊湊型設計和多功能性的完美結合
S mart II 將包含計算核心在內的所有電子設備都整合在掃描頭內部，這樣便利的設計使得S mart II 是市面上獨一無二的可集成3D輪廓儀
S mart II 的設計使操作及安裝非常簡單
包括計算核心在內的所有電子設備都在測量頭內部
這樣的設計使得安裝 Sensofar 系統從未如此簡單
S mart II 只有兩個接口：網線和電源
S mart II系統重量輕、體積小
可集成頭的形狀經過精心設計以改善系統的適配性
與早期型號相比，其設計更窄，掃描頭寬度僅有90 mm
進而允許集成頭不會干擾到用戶或製造操作
S mart II所有電子設備都在掃描頭內部
S mart II 的設計非常易於集成
包括計算核心在內的所有電子設備都在掃描頭內部
這樣的設計使得安裝 Sensofar 系統從未如此簡單
S mart II的被動冷卻方案
系統的性能通常都會受到溫度影響
S mart II採用了一個高效的被動冷卻方案
讓測量系統隨時準備工作
三合一量測技術_Ai 多焦面疊加
主動照明多焦面疊加是一種為了測量大粗糙表面形狀而開發的光學技術
這項技術基於Sensofar在共聚焦和干涉3D測量領域的廣泛專業知識，專門設計用於補充低放大率下的測量
通過使用主動照明，即使在光學平滑的表面上也能獲得更可靠的測量數據
此技術的亮點包括可以量測高斜率表面，擁有極快的量測數度和較大的垂直範圍測量
三合一量測技術_共聚焦
共聚焦輪廓儀的開發目的是，測量從光滑表面到非常粗糙表面的表面高度
獨家的共聚焦算法提供了極佳的垂直重複性
三合一量測技術_干涉
光學干涉是利用參考鏡和樣品上產生的兩束反射光在零光程差時產生的干涉現象來形成三維干涉條紋，其中包含了樣品表面形貌上的信息
此量測方式擁有非常好的垂直分辨率