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Sensofar新發佈一台新一代形貌測量工具：S wide，其特性是具有高性能非接觸快速大面積的3D光學輪廓測量系統，專為微尺度 (um)測量而設計，具有先進的檢查和分析功能。 S wide的測量面積最高可達300 x 300 mm (11.8 x 11.8 in)，並且最大測量高度更達到了4 cm，最重要的是只要一鍵就能完成測量，非常容易使用!!
S wide最佳特性：
- 無需Z軸掃描即可單次測量40 mm高的樣品
- 整個擴展區域內的亞微米(100 nm-1 um) 具高度可重複性
- 支援3D CAD模型的形狀偏差 (提供幾何公差和公差測量)
- 具有兩側遠心鏡頭，能降低場失真，提供精確的測量
- 一鍵測量，簡單操作
S wide能應用之領域：
- 半導體先進製造業
- 消費性電子產品
- 模具製造業
- 光學零件類
- 鐘錶類
- 醫療器材與醫學材料
- 考古學與古生物學